ZEISS scatterControl模块可显著改善图像质量，并将CT扫描的散射伪影降至更低。上述优化有助于合适零件的后续数据处理和评估步骤，从而让表面测定和缺陷分析更为。该产品适用于高容量、高密度零件，如增材制造的金属零件和铝铸件（甚至带有钢嵌体），以及其他含有高密度材料的装配件。

该模块可用于ZEISS METROTOM 1500 225kV G3，也可作为改造解决方案或购买新系统的一部分。即刻起，使用ZEISS scatterControl升级您的系统吧。您将获得良好的图像质量，从而更便捷地进行数据评估。

图像质量更佳、缺陷检测性能更优
ZEISS scatterControl通过减少散射辐射造成的伪影，显著改善了CT图像质量。不同组件之间的对比度提升，缺陷检测步骤也得以简化：可对既往几乎无法评估的零件区域进行评估。

优化表面测定
受益于ZEISS scatterControl，不仅缺陷检测步骤有所简化，表面测定的总体质量也有所提升。这对于具有挑战性的零件的计量应用而言是巨大优势，如果不对其伪影进行校正，则会影响表面测定过程。

配备VAST模式，实现快速扫描
ZEISS scatterControl可与“Stop and Go（走停）”和VAST扫描模式配合使用。ZEISS scatterControl解决方案为锥束CT提供良好的图像质量，可与扇束CT的图像质量相媲美，但扫描时间可提高1000倍。

使用方便
ZEISS scatterControl属于一键式解决方案。该模块可与METROTOM OS的其他有用功能无缝衔接，如VHD（虚拟水平探测器扩展）、AMMAR（混合材料伪影减少）或VolumeMerge，并完全集成到软件中。

ZEISS scatterControl的缺陷分析性能更优
ZEISS scatterControl可显著改善各种零件和行业的CT扫描图像质量。其作用机制十分明确，该解决方案不仅可有效去除伪影，还能对模块进行相对于工件的定位。基于这些优势，ZEISS scatterControl成为所在领域的理想之选。通过以下内容了解如何使用该模块进行缺陷检测和分析。

减少伪影，改善CT图像质量
ZEISS scatterControl与其他产品相比具有明显差异，其使用滑块元素来比较使用和不使用scatterControl模块可实现的X射线图像质量。因此，改进后的图像对比度更高且伪影更少，从而使细节呈现更为清晰。